ZVA110 矢量網絡分析儀

詳細介紹

R&S®ZVA 系列產品屬于，zui多可支持 4 個信號源，可以精準地測量高達 110 GHz 的信號。 需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進行要求*的測量時，該系列產品是理想的選擇。 其高頻型產品的頻率范圍zui大可擴展至 500 GHz。
出色的性能(*)

R&S®ZVA 已經成為解決絕大多數挑戰性應用的里程碑式產品：
*臺頻率可高達 67 GHz，并且含兩路內部源的，可以快速地對放大器和混頻器進行測量
• 線性和非線性放大器和混頻器測量：
° 對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進行測量
° 對帶內置本振的群延時和相對相位進行測量
° 對混頻器的變頻損耗和互調進行測量
° 對放大器進行互調和 Hot S 參數進行測量
• 脈沖測量：
° *臺中頻帶寬高達 30 MHz 的，用于對工作頻率高達 67 GHz的放大器和混頻器進行脈沖測量（詳細內容請參見“應用”和“選件”）
° 對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進行分辨率高達 12.5 ns 的脈沖包絡測量
° 頻率和功率掃描式的脈內測量
• *臺工作頻率高達 50 GHz 、可以產生相位相干信號的
° 采用真差分模擬，可以快速、簡便地測試平衡待測設備
° 輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關系支持用戶自定義
• 校準
° 多功能校準技術：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM 
° 方便、快捷的矢量混頻器校準功能和帶有“未知通路”校準 UOSM的“適配器去除功能”
特性：
1.*化的測試和配置時間，提高了測試速度 
大中頻帶寬和寬動態范圍，使測量更快、更加精確
R&S®ZVA 創立了測量速度的新*：它將高達 1 MHz的中頻帶寬（可選 5/10 MHz）和高速合成器結合在一起，縮短了測量時間，從而提高了手動調整和自動化生產過程的效率。 在CW 模式下，每個測試點的測量時間不到 3.5μs；頻率掃描模式下200 多個測試點不到 5ms 即可完成。
由于該分析儀的動態范圍寬、相位噪聲低，因而這種速度優勢絲毫不會對測量準確性產生影響。 借助 R&S®ZVA 上 100 多個獨立信道和配置的跡線，可以在zui短時間內完成復雜組件全面的功能測試。 不再需要耗時地加載新的儀表設置。

寬動態范圍
zui小化的校準工作量和校準時間
R&S®ZV-Z5x 自動校準單元
采用自動校準單元，將校準時間降低至zui?。?/span>
• 自動檢測已經連接的設備和端口：無需配置。
• 工作溫度范圍極寬，預熱時間幾乎為零。
手動校準
• 羅德與施瓦茨網絡分析儀支持數量zui多的校準技術。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導或者導線端頭可能需要校準。 選擇可以支持適用校準標準的校準技術。
• 系統設計有結構清晰的對話框，顯示所有的校準步驟，確保校準工作正確無誤。
• 校準期間，錯誤的連接僅需重做相應的校準步驟，即，無需從頭開始*的重新校準。
• 對于多端口重新校準，更加省心省力：更換測試儀組件（例如，某個故障電纜）之后，僅需重新校準相應的通路。
• 避免重新校準：對于后續測量信道和設置，可以使用已有的校準結果。

并行測量 — 測量速度比原來快四倍
R&S®ZVA 的發生器設計，使得每個測試端口都可以同時作為信號源和接收機使用。 因此，可以對測試端口進行分組。 在各個測試端口組上進行的測量任務可以彼此實現同步。 因而，可以并行地測量多個 DUT 或者一個 DUT 的多個通路； 測量時間僅相當于測量一個設備所需要的時間。 因此，同時測量兩個兩端口DUT時，速度將提高一倍；同時測量四個單端口DUT時，速度將是原先的四倍。

并行測量
儀器各種設置之間的快速切換
在同時分析多個DUT時，你再也無需從硬盤逐個載入所需的儀器設置。一旦被調用，設置將始終保存于RAM中，其中包括計算獲得的數據，例如通過插值獲得的校準值。 因此，各種設置之間的切換幾乎不會產生延誤，例如：遠程控制模式下不到 10 ms 時間。 而對于傳統儀器來說，設置的調用則需要花費長達一秒鐘的時間。 每個設置都用一個單獨的測量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時，只需使用鼠標或按動按鍵即可。 此外，這種設計還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測量結果和跡線。

儀器各種設置之間的切換
在掃描的同時進行數據傳輸
由于跡線數據可在捕獲測量數據的同時通過IEC/IEEE總線或LAN進行傳輸，因而 R&S®ZVA 上的數據傳輸時間對于重復測量序列來說微不足道。
信道位和用戶端口——高速控制外部設備
為了進一步縮短自動測試周期，儀器后面板上提供了一個用于觸發I/O信號的特殊端口， 這些 I/O 信號可通過 R&S®ZVA 的內部測量序列直接同步測量裝置的外部設備或 DUT 設置。諸如“觸發就緒”等儀表狀態，可以用作直接控制外部設備的電信號。由于不需要使用遠程控制序列，因而節省了執行時間。
利用分段掃描實現*測量速度、準確性和動態范圍
分段掃描功能允許將一次掃描分割成數量不受限制的許多段，每一段的測試點間距、測量帶寬和信號發生器功率等各分段掃描參數可單獨進行定義，從而實現與DUT特性之間的*匹配。 以此實現測量速度和準確度的進一步優化。
2.直觀的用戶界面和顯示結構
為了*地滿足用戶需求，羅德與施瓦茨公司的全部網絡分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標和鍵盤，或者同時采用兩者進行控制。對話框直觀地顯示儀表設置和可輸入的參數。僅需少數幾個菜單，就可以完成基本的設置。 系統設計了其它表格和對話框，可以用于更加詳盡的高級設置。 此外，鼠標點擊顯示界面中的參數區域時，會彈出菜單，從中可以選擇目標參數 – 采用該功能，可以極其方便、快速地操作 R&S®ZVA。

虛擬阻抗匹配的參數化配置網絡

（重新）配置跡線、信道、標度和顯示區域等

配置時域測量（TDR）功能
羅德與施瓦茨公司的所有網絡分析儀的主要目的是實現配置的方便與靈活性以及海量測量數據（即，跡線和測量信道）的處理能力。 跡線、信道、顯示和設置等的數量僅受 PC 內存的限制（例如，可支持高達 100 個跡線，且每個跡線zui多可支持 401 個數據點）。 即使是不同信道的跡線，也可以組合在一個區內，據此，可以方便地比較使用了不同參數的測量結果。 完成設置之后，所有跡線均可以重新布局、移至不同的區域，或者分配給不同的信道；更改設置時，無需一切從頭開始。

靈活的信道和跡線布局
3.式的校準技術
多用途校準技術，可滿足所有領域的應用
R&S®ZVA 不僅提供傳統的TOSM校準方法（直通、開路、短路、匹配），而且還提供其他多種校準技術。 由于 R&S®ZVA 的每個測試端口都配備了一個單獨的參考接收機，因而可以使用良好的 7-term 校準技術，其中包括 TRL/LRL（直通、反射、傳輸線/傳輸線、反射、傳輸線）、TOM（直通、開路、匹配）、TNA（直通、網絡、衰減器）和 TRM（直通、反射、匹配）。這些校準技術適合測試夾具或晶片的校準。 由于校準直接在 DUT 參考面上進行，因而*消除了測試夾具產生的影響。
UOSM 校準技術極其類似于 TOSM 技術。但是，前者允許使用未知通路（“U”）作為校準標準，即，無需知道某個通路的參數（例如，長度或衰減）。 此外，支持各種類型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此，極大地方便了帶有不同類型連接器的 DUT 的校準任務。 
使用靈活的校準套件
任何一種網絡分析儀的測量精度均極大地取決于例如長度、容量等所有電氣和機械參數。這些參數決定了幅值和相位響應，因而，也決定了校準標準中的 S 參數。 當然，必須盡可能準確地獲得這些參數。 為了定義校準標準，必要擁有考慮了可能出現的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網絡分析儀均配設有清晰的等效電路圖和建模功能，*這一需求，可以進行詳盡的參數設置。 

 ZVA8      帶 4 個內部信號源，頻率高達 8 GHz

 ZVA24     帶 4 個內部信號源，頻率高達24 GHz

 ZVA50     帶 4 個內部信號源，頻率高達 50 GHz

 ZVA67     帶 4 個內部信號源，頻率高達67 GHz

 ZVA80     帶 4 個內部信號源，頻率高達 80 GHz

 ZVA110    帶 4 個內部信號源，頻率高達110 GHz

通過電氣延時、任意阻抗和損耗定義匹配

采用等效電路圖定義匹配，其中，考慮了寄生電感和寄生電容效應
除了手動地定義校準套件之外，也可以通過文件方便地安裝校準套件 – 甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測量單元。
自動校準――快速、無錯誤、高精度
盡管 TOSM、TRM 和 TRL 等手動校準技術可用于多端口測量，但是比較耗時，出錯率高，并且校準裝置磨損嚴重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準所需的自動校準單元，該單元在連接后可立即進入工作狀態，不到30秒時間可完成201個測試點的四端口校準。
4.通信
系統設計有各種后面板連接器，用于支持：
• 通過遠程控制軟件控制儀表。
• 采用 R&S®NRP探頭進行直流電壓和功率測量
• 同步功能（例如，參考頻率、外部觸發器、掃描和觸發狀態指示等，用以直接、快速地與外部設備進行交互）。
• 掃描時間測量：USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測量時間，與菜單“Trigger settings（觸發器設置）”中的設置相對應（掃描、掃描段、測試點，或者部分測量）。 借助示波器，可以方便地監控每一種情況下實際所需要的執行時間。